Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2019 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 2060 | 1823 |
h-индекс | 27 | 27 |
i10-индекс | 45 | 37 |
Соавторы
- Qiongjie LinSamsung Research America Inc,Подтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Boon Loong NgSamsung Research AmericaПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Md Saifur RahmanSamsung Research America - DallasПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Yingzhe LiSamsung Research AmericaПодтвержден адрес электронной почты в домене utexas.edu
- Sriram VishwanathUniversity of TexasПодтвержден адрес электронной почты в домене utexas.edu
- O. Ozan KoyluogluUniversity of California, BerkeleyПодтвержден адрес электронной почты в домене berkeley.edu
- Jian YuanProfessor of Electronic Engineering, Tsinghua UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене tsinghua.edu.cn
- Jianzhong (Charlie) ZhangSamsungПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Haris VikaloProfessor, University of Texas at AustinПодтвержден адрес электронной почты в домене ece.utexas.edu
- Ilsun YouKookmin UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене kookmin.ac.kr
Подписаться
Hongbo Si
Samsung Research America
Подтвержден адрес электронной почты в домене utexas.edu - Главная страница