Построение измерителей контактной разности потенциалов КВ Пантелеев, ВА Микитевич, АЛ Жарин Приборы и методы измерений 7 (1), 7-15, 2016 | 29 | 2016 |
Design of the contact potentials difference probes KU Pantsialeyeu, UA Mikitsevich, AL Zharin Devices and Methods of Measurements 7 (1), 7-15, 2016 | 13 | 2016 |
Semiconductor wafers testing based on electron work function of surface K Panteleev, A Zharin, V Mikitsevich, O Gusev Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering 2 (5), 2, 2020 | 6 | 2020 |
Scanning photostimulated electrometry for testing the uniformity of spatial distribution of semiconductor wafers parameters A Tyavlovsky, A Zharin, U Mikitsevich, R Vorobey Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering 2 (4), 11, 2020 | 5 | 2020 |
Адаптивное освещение в «умной» аудитории ЮД Сороко, ВА Микитевич, АИ Свистун, КЛ Тявловский БНТУ, 2022 | 2 | 2022 |
Растровая сканирующая фотостимулированная электрометрия для контроля прецизионных поверхностей РИ Воробей, ОК Гусев, АЛ Жарин, ВА Микитевич, КВ Пантелеев, ... Известия Тульского государственного университета. Технические науки, 66-73, 2021 | 2 | 2021 |
Методы реализации модуляции светового излучения для фотостимулированной зондовой электрометрии ВА Микитевич, АЛ Жарин БНТУ, 2021 | 2 | 2021 |
Зарядочувствительные методы измерения поверхностной фото-ЭДС ВА Микитевич, АЛ Жарин БНТУ, 2020 | 2 | 2020 |
Контроль однородности свойств поверхностей на основе зондового картирования потенциала КВ Пантелеев, АИ Свистун, АК Тявловский, КЛ Тявловский, ... Новые материалы и технологии: порошковая металлургия, композиционные …, 2020 | 2 | 2020 |
ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНЫЙ СЕНСОР ДЛЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ, РАБОТАЮЩИХ ПО СХЕМЕ СИНУСОИДАЛЬНОЕ ВОЗБУЖДЕНИЕ-ОТКЛИК ВА Микитевич, АИ Свистун, АВ Самарина, КВ Пантелеев, АЛ Жарин Приборы и методы измерений 14 (1), 18-26, 2023 | 1 | 2023 |
Зарядочувствительный метод исследования деформации материалов КВ Пантелеев, ВА Микитевич, АИ Свистун, АЛ Жарин НОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ И ТЕХНОЛОГИИ: ПОРОШКОВАЯ МЕТАЛЛУРГИЯ, КОМПОЗИЦИОННЫЕ …, 2022 | 1 | 2022 |
Электроника (цифровая электроника). Ч. 1 ТЛ Владимирова, КЛ Тявловский, ВА Микитевич БНТУ, 2021 | 1 | 2021 |
Цифровой измеритель контактной разности потенциалов ВА Микитевич, АЛ Жарин БНТУ, 2018 | 1 | 2018 |
Устройство сопряжения аналогового измерителя контактной разности потенциалов и хост-компьютера ВА Микитевич, КВ Пантелеев, АЛ Жарин БНТУ, 2017 | 1 | 2017 |
Малогабаритный аналоговый измеритель контактной разности потенциалов ВА Микитевич, КВ Пантелеев, АЛ Жарин БНТУ, 2016 | 1 | 2016 |
Реализация спектрального анализа измерительного сигнала зонда кельвина на базе плис XILINX НС Ясько, АК Тявловский, СВ Борисенок, ВА Микитевич, ... БНТУ, 2023 | | 2023 |
Программная реализация цифровых фильтров на SOC XILINX ZYNQ7010 НС Ясько, АК Тявловский, ИА Париза, ВА Микитевич, СВ Борисенок БНТУ, 2023 | | 2023 |
Тестирование и калибровка измерительного преобразователя электрического потенциала поверхности со статическим зондом РИ Воробей, ОК Гусев, АЛ Жарин, ВА Микитевич, КВ Пантелеев, ... БНТУ, 2023 | | 2023 |
Анализ эффектов накопления заряда в диэлектрическом материале в процессе внешнего воздействия ВА Микитевич, МС Борбат, КВ Пантелеев, РИ Воробей, АЛ Жарин БНТУ, 2023 | | 2023 |
Анализ факторов, влияющих на формирование электропотенциального рельефа в условиях пластического течения деформации КВ Пантелеев, ВА Микитевич, РИ Воробей, АИ Свистун, АП Крень, ... БНТУ, 2023 | | 2023 |