Компактная макромодель КНИ/КНС МОП-транзистора, учитывающая радиационные эффекты КО Петросянц, ЛМ Самбурский, ИА Харитонов, АП Ятманов Известия вузов. Электроника 1, 87, 2011 | 25 | 2011 |
Hardware-Software Subsystem for MOSFETs Characteristic Measurement and Parameter Extraction with Account for Radiation Effects KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky Advanced Materials Research 718, 750-755, 2013 | 20 | 2013 |
Simulation of total dose influence on analog-digital SOI/SOS CMOS circuits with EKV-RAD macromodel KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky, VN Bogatyrev, ... Design & Test Symposium, 2013 East-West, 1-6, 2013 | 17 | 2013 |
SOI/SOS MOSFET compact macromodel taking into account radiation effects KO Petrosyants, LM Sambursky, IA Kharitonov, AP Yatmanov Russian Microelectronics 40 (7), 457-462, 2011 | 16 | 2011 |
Simulation of Radiation Effects in SOI CMOS Circuits with BSIMSOI-RAD macromodel KO Petrosjanc, IA Kharitonov, EV Orekhov, LM Sambursky, AP Yatmanov Proc. of IEEE East-West Design & Test Intl. Symposium (EWDTS'09), Moscow …, 2009 | 15 | 2009 |
SOI/SOS MOSFET universal compact SPICE model with account for radiation effects KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2015 Joint International …, 2015 | 10 | 2015 |
IV-Characteristics Measurement Error Resulting from Long Cables for Irradiated Bipolar Junction Transistors KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky, MV Kozhukhov Advanced Materials Research 1083, 185-189, 2015 | 8 | 2015 |
Исследование стойкости к воздействию отдельных ядерных частиц ячеек КНИ КМОП ОЗУ методами смешанного 3D TCAD-SPICE моделирования КО Петросянц, ИА Харитонов, ЕВ Орехов, ЛМ Самбурский, ... Foresight, 2013 | 5 | 2013 |
Трехмерное моделирование радиационных токов утечки в субмикронных МОП-транзисторах со структурой кремний-на-изоляторе КО Петросянц, ЕВ Орехов, ЛМ Самбурский, ИА Харитонов, ... Известия вузов. Электроника, 82, 2010 | 5 | 2010 |
ПРОЕКТИРОВАНИЕ РАДИАЦИОННО-СТОЙКОГО ПРЕЦИЗИОННОГО УСИЛИТЕЛЯ НА БАЗЕ КНС КМОП ТЕХНОЛОГИИ КО Петросянц, ВН Богатырев, НБ Гоманилова, ЗМ Поварницына, ... Foresight, 2013 | 3 | 2013 |
Макромодель EKV RAD для КНИ/КНС МОП-транзисторов, учитывающая радиационные эффекты КО Петросянц, ИА Харитонов, ЛМ Самбурский, АС Адонин Электроника, микро-и наноэлектроника. Сб. научн. Трудов. М.: НИЯУ МИФИ, 8-20, 2012 | 3 | 2012 |
ПРИБОРНО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ КМОП КНИ БИС С УЧЀТОМ ФАКТОРОВ РАДИАЦИОННОГО ВОЗДЕЙСТВИЯ ИА Харитонов, КО Петросянц, ЕВ Орехов, АП Ятманов, ... Всероссийская научно-техническая конференция" Проблемы разработки …, 2008 | 3 | 2008 |
Приборно-технологическое моделирование элементной базы КМОП КНИ БИС с учётом факторов радиационного воздействия КО Петросянц, ИА Харитонов, ЛМ Самбурский, ЕВ Орехов, ... Сб. научных трудов, 266-271, 2008 | 3* | 2008 |
TCAD-SPICE simulation of MOSFET switch delay time for different CMOS technologies KO Petrosyants, EV Orekhov, DA Popov, IA Kharitonov, LM Sambursky, ... Design & Test Symposium (EWDTS), 2011 9th East-West, 188-190, 2011 | 1 | 2011 |
BSIMSOI-RAD–макромодель КНИ/КНС МОП-транзистора для схемотехнического расчета КМОП БИС с учетом радиационных эффектов КО Петросянц, ЛМ Самбурский, ИА Харитонов, АП Ятманов Известия высших учебных заведений, 2010 | 1 | 2010 |
Моделирование влияния паразитного биполярного транзистора на механизм одиночных сбоев ячейки памяти КНИ КМОП ОЗУ КО Петросянц, ИА Харитонов, ЕВ Орехов, ЛМ Самбурский, ... Качество. Инновации. Образование, 52-55, 2010 | 1 | 2010 |
SPICE-модели оптоэлектронных элементов для расчёта фоточувствительных КМОП-ФД БИС ЛМ Самбурский МЭС–2005. Сб. научных трудов.–М.: ИППМ, 196-203, 2005 | 1 | 2005 |
СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ SPICE-МОДЕЛЕЙ КНИ/КНС МОП-ТРАНЗИСТОРОВ ДЛЯ УЧЁТА РАДИАЦИОННЫХ ЭФФЕКТОВ КО Петросянц, ИА Харитонов, ЛМ Самбурский | 1* | |
Исследование компьютерной модели арифметико-логического устройства ЭВМ”. Методические указания к лабораторной работе по курсу “Организация ЭВМ и ситем ЕП Доморацкий, ЛМ Самбурский Новое литературное обозрение, 111-117, 2014 | | 2014 |
Моделирование фунциональных узлов ЭВМ с помощью программы Electronics Workbench”. Методические указания к лабораторным, семинарским и курсовым работам по курсу “Организация ЭВМ … ЕП Доморацкий, ЛМ Самбурский Качество. Инновации. Образование 83 (4), 73-78, 2012 | | 2012 |