Lev Sambursky
Lev Sambursky
МИЭМ НИУ ВШЭ
Подтвержден адрес электронной почты в домене hse.ru - Главная страница
НазваниеПроцитированоГод
Hardware-Software Subsystem for MOSFETs Characteristic Measurement and Parameter Extraction with Account for Radiation Effects
KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky
Advanced Materials Research 718, 750-755, 2013
172013
Simulation of total dose influence on analog-digital SOI/SOS CMOS circuits with EKV-RAD macromodel
KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky, VN Bogatyrev, ...
Design & Test Symposium, 2013 East-West, 1-6, 2013
142013
Simulation of Radiation Effects in SOI CMOS Circuits with BSIMSOI-RAD macromodel
KO Petrosjanc, IA Kharitonov, EV Orekhov, LM Sambursky, AP Yatmanov
Proc. of IEEE East-West Design & Test Intl. Symposium (EWDTS'09), Moscow …, 2009
142009
SOI/SOS MOSFET compact macromodel taking into account radiation effects
KO Petrosyants, LM Sambursky, IA Kharitonov, AP Yatmanov
Russian Microelectronics 40 (7), 457-462, 2011
132011
IV-Characteristics Measurement Error Resulting from Long Cables for Irradiated Bipolar Junction Transistors
KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky, MV Kozhukhov
Advanced Materials Research 1083, 185-189, 2015
62015
Компактная макромодель КНИ/КНС МОП-транзистора, учитывающая радиационные эффекты
КО Петросянц, ЛМ Самбурский, ИА Харитонов, АП Ятманов
Известия вузов. Электроника 1, 87, 2011
62011
SOI/SOS MOSFET universal compact SPICE model with account for radiation effects
KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky
Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2015 Joint International …, 2015
32015
ПРОЕКТИРОВАНИЕ РАДИАЦИОННО-СТОЙКОГО ПРЕЦИЗИОННОГО УСИЛИТЕЛЯ НА БАЗЕ КНС КМОП ТЕХНОЛОГИИ
КО Петросянц, ВН Богатырев, НБ Гоманилова, ЗМ Поварницына, ...
Foresight, 2013
32013
Макромодель EKV RAD для КНИ/КНС МОП-транзисторов, учитывающая радиационные эффекты
КО Петросянц, ИА Харитонов, ЛМ Самбурский, АС Адонин
Электроника, микро-и наноэлектроника. Сб. научн. Трудов. М.: НИЯУ МИФИ, 8-20, 2012
32012
Трехмерное моделирование радиационных токов утечки в субмикронных МОП-транзисторах со структурой кремний-на-изоляторе
КО Петросянц, ЕВ Орехов, ЛМ Самбурский, ИА Харитонов, ...
Известия вузов. Электроника, 82, 2010
22010
Исследование стойкости к воздействию отдельных ядерных частиц ячеек КНИ КМОП ОЗУ методами смешанного 3D TCAD-SPICE моделирования
КО Петросянц, ИА Харитонов, ЕВ Орехов, ЛМ Самбурский, ...
Foresight, 2013
12013
TCAD-SPICE simulation of MOSFET switch delay time for different CMOS technologies
KO Petrosyants, EV Orekhov, DA Popov, IA Kharitonov, LM Sambursky, ...
Design & Test Symposium (EWDTS), 2011 9th East-West, 188-190, 2011
12011
SPICE-модели оптоэлектронных элементов для расчёта фоточувствительных КМОП-ФД БИС
ЛМ Самбурский
МЭС–2005. Сб. научных трудов.–М.: ИППМ, 196-203, 2005
12005
Компактные модели МОП-транзисторов со структурой КНИ для схемотехнических расчётов
КО Петросянц, ИА Харитонов, ЛМ Самбурский
1
Исследование компьютерной модели арифметико-логического устройства ЭВМ”. Методические указания к лабораторной работе по курсу “Организация ЭВМ и ситем
ЕП Доморацкий, ЛМ Самбурский
Новое литературное обозрение, 111-117, 2014
2014
Моделирование фунциональных узлов ЭВМ с помощью программы Electronics Workbench”. Методические указания к лабораторным, семинарским и курсовым работам по курсу “Организация ЭВМ …
ЕП Доморацкий, ЛМ Самбурский
Качество. Инновации. Образование 83 (4), 73-78, 2012
2012
BSIMSOI-RAD–макромодель КНИ/КНС МОП-транзистора для схемотехнического расчета КМОП БИС с учетом радиационных эффектов
КО Петросянц, ЛМ Самбурский, ИА Харитонов, АП Ятманов
Известия высших учебных заведений, 2010
2010
Моделирование влияния паразитного биполярного транзистора на механизм одиночных сбоев ячейки памяти КНИ КМОП ОЗУ
КО Петросянц, ИА Харитонов, ЕВ Орехов, ЛМ Самбурский, ...
Качество. Инновации. Образование, 52-55, 2010
2010
ПРИБОРНО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ КМОП КНИ БИС С УЧЀТОМ ФАКТОРОВ РАДИАЦИОННОГО ВОЗДЕЙСТВИЯ
ИА Харитонов, КО Петросянц, ЕВ Орехов, АП Ятманов, ...
Всероссийская научно-техническая конференция" Проблемы разработки …, 2008
2008
Приборно-технологическое моделирование элементной базы КМОП КНИ БИС с учётом факторов радиационного воздействия
КО Петросянц, ИА Харитонов, ЛМ Самбурский, ЕВ Орехов, ...
Сб. научных трудов, 266-271, 2008
2008
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20