Свистун А.И. (Svistun A.)
Свистун А.И. (Svistun A.)
Belarusian National Technical University, Minsk, Belarus
Подтвержден адрес электронной почты в домене bntu.by - Главная страница
Название
Процитировано
Процитировано
Год
Диагностика локальных изменений пластической деформации по работе выхода электрона
КВ Пантелеев, АИ Свистун, АЛ Жарин
Приборы и методы измерений, 56-63, 2015
12*2015
Цифровой измеритель контактной разности потенциалов
КВ Пантелеев, АИ Свистун, АК Тявловский, АЛ Жарин, ...
Приборы и методы измерений 7 (2), 136-144, 2016
102016
Controlling the characteristics of photovoltaic cells based on their own semiconductors [Kontrolowanie charakterystyk przetworników fotowoltaicznych w oparciu o półprzewodniki]
R VOROBEY, O GUSEV, K TYAVLOVSKY, A SVISTUN, ...
Przeglad Elektrotechniczny 91 (8), 81-85, 2015
102015
Методы измерений работы выхода электрона для контроля состояния поверхностей в процессе трения
КВ Пантелеев, АИ Свистун, АЛ Жарин
Приборы и методы измерений, 2014
82014
Photoelectric semiconductor converters with a large dynamic range
KK Roman I. VOROBEY, Oleg K. GUSEV, Andrey K. TYAVLOVSKY, Konstantin L ...
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 90 (5), 75-78, 2014
7*2014
Проектирование и управление метрологическими характеристиками фотоэлектрических преобразователей на основе полупроводников с многозарядными примесями
ОК Гусев, АИ Свистун, ЛИ Шадурская, НВ Яржембицкая
Датчики и системы, 19-23, 2011
7*2011
Влияние плотности мощности оптического излучения на динамические метрологические характеристики фотоэлектрических полупроводниковых преобразователей с многозарядными примесями
ОК Гусев, ЛИ Шадурская, АИ Свистун
Метрология и приборостроение, 13-16, 2009
52009
Контроль трущейся поверхности методами контактной разности потенциалов
АЛ Жарин, ОК Гусев, АИ Свистун, АК Тявловский
Известия Тульского государственного университета. Технические науки, 2011
42011
Моделирование средств измерений параметров объектов с неопределенными состояниями
OK Гусев, АИ Свистун
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 34-39, 2006
42006
Функциональные возможности и базисные структуры фотоэлектрических нуль-детекторов
ВБ Яржембицкий, ЛИ Шадурская, АИ Свистун
НАУКА и ТЕХНИКА, 43-47, 2003
4*2003
Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с многофункциональными одноэлементными фотоприемниками
РИ Воробей, ОК Гусев, АИ Свистун, АК Тявловский, КЛ Тявловский, ...
Приборы и методы измерений 9 (3), 2018
32018
Methods for work function measurements for the test of a surface in a during friction
KV Panteleyev, AI Svistun, AL Zharin
Devices and Methods of Measurements, 107-113, 2015
32015
Алгоритм определения метрологических характеристик широкодиапазонных фотоэлектрических полупроводниковых преобразователей с многозарядными примесями
ОК Гусев, АИ Свистун, ЛИ Шадурская, НВ Яржембицкая
Приборы и методы измерений, 99-103, 2011
3*2011
Моделирование методов и средств многопараметрических измерений на основе одноэлементных первичных преобразователей
ОК Гусев, РИ ВОРОБЕЙ, АИ СВИСТУН, КЛ ТЯВЛОВСКИЙ, ...
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 33-37, 2009
32009
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
VА Pilipenko, VA Saladukha, VA Filipenya, RI Vorobey, OK Gusev, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (4), 344-356, 2017
22017
Kelvin probe’s stray capacitance and noise simulation
S Danyluk, AV Dubanevich, OK Gusev, AI Svistun, AK Tyavlovsky, ...
Приборы и методы измерений, 94-98, 2014
22014
Фотоэлектрические нуль-детекторы для систем передачи данных
РИ Воробей, ОК Гусев, ВП Киреенко, АИ Свистун, КЛ Тявловский, ...
Датчики и системы, 28-30, 2006
22006
Контроль качества отражающих оптических поверхностей высшего класса чистоты методами зондовой электрометрии
АК Тявловский, АЛ Жарин, КВ Пантелеев, АИ Свистун, НИ Мухуров, ...
БНТУ, 2017
12017
Фотоприемники на основе собственных полупроводников для построения измерительных преобразователей
ОК Гусев, КЛ Тявловский, РИ Воробей, АИ Свистун, ЛИ Шадурская
БелГИМ, 2017
12017
Методы исследования полимеров на основе зондового картирования электростатического потенциала
КВ Пантелеев, АВ Кравцевич, ИА Ровба, АИ Свистун, КЛ Тявловский, ...
Перспективные материалы и технологии, 27-29, 2017
12017
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20