Свистун А.И. (Svistun A.)
Свистун А.И. (Svistun A.)
Belarusian National Technical University, Minsk, Belarus
Подтвержден адрес электронной почты в домене bntu.by - Главная страница
НазваниеПроцитированоГод
Диагностика локальных изменений пластической деформации по работе выхода электрона
КВ Пантелеев, АИ Свистун, АЛ Жарин
Приборы и методы измерений, 56-63, 2015
8*2015
Controlling the characteristics of photovoltaic cells based on their own semiconductors [Kontrolowanie charakterystyk przetworników fotowoltaicznych w oparciu o półprzewodniki]
R VOROBEY, O GUSEV, K TYAVLOVSKY, A SVISTUN, ...
Przeglad Elektrotechniczny 91 (8), 81-85, 2015
72015
Методы измерений работы выхода электрона для контроля состояния поверхностей в процессе трения
КВ Пантелеев, АИ Свистун, АЛ Жарин
Приборы и методы измерений, 2014
72014
Проектирование и управление метрологическими характеристиками фотоэлектрических преобразователей на основе полупроводников с многозарядными примесями
ОК Гусев, АИ Свистун, ЛИ Шадурская, НВ Яржембицкая
Датчики и системы, 19-23, 2011
5*2011
Photoelectric semiconductor converters with a large dynamic range
KK Roman I. VOROBEY, Oleg K. GUSEV, Andrey K. TYAVLOVSKY, Konstantin L ...
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 90 (5), 75-78, 2014
4*2014
Контроль трущейся поверхности методами контактной разности потенциалов
АЛ Жарин, ОК Гусев, АИ Свистун, АК Тявловский
Известия Тульского государственного университета. Технические науки, 2011
42011
Цифровой измеритель контактной разности потенциалов
КВ Пантелеев, АИ Свистун, АК Тявловский, АЛ Жарин, ...
Приборы и методы измерений 7 (2), 136-144, 2016
32016
Алгоритм определения метрологических характеристик широкодиапазонных фотоэлектрических полупроводниковых преобразователей с многозарядными примесями
ОК Гусев, АИ Свистун, ЛИ Шадурская, НВ Яржембицкая
Приборы и методы измерений, 99-103, 2011
3*2011
Функциональные возможности и базисные структуры фотоэлектрических нуль-детекторов
ВБ Яржембицкий, ЛИ Шадурская, АИ Свистун
НАУКА и ТЕХНИКА, 43-47, 2003
3*2003
Methods for work function measurements for the test of a surface in a during friction
KV Panteleyev, AI Svistun, AL Zharin
Devices and Methods of Measurements, 107-113, 2014
22014
Моделирование средств измерений параметров объектов с неопределенными состояниями
OK Гусев, АИ Свистун
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 34-39, 2006
22006
Фотоэлектрические нуль-детекторы для систем передачи данных
РИ Воробей, ОК Гусев, ВП Киреенко, АИ Свистун, КЛ Тявловский, ...
Датчики и системы, 28-30, 2006
22006
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
VA Pilipenko, VA Saladukha, VA Filipenya, RI Vorobey, OK Gusev, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (4), 344-356, 2017
12017
Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использованием методов зондовой электрометрии
ВА Пилипенко, ВА Солодуха, ВА Филипеня, РИ Воробей, ОК Гусев, ...
Приборы и методы измерений 8 (4), 2017
12017
Проектирование систем охранного телевидения
КЛ Тявловский, РИ Воробей, ОК Гусев, АЛ Жарин, АК Тявловский, ...
БНТУ, 2016
12016
Kelvin probe’s stray capacitance and noise simulation
S Danyluk, AV Dubanevich, OK Gusev, AI Svistun, AK Tyavlovsky, ...
Приборы и методы измерений, 94-98, 2014
12014
Калибровка волоконно-оптических сенсоров с использованием двухбарьерных фотодетекторов
ОК Гусев, КЛ Тявловский, АК Тявловский, РИ Воробей, АИ Свистун, ...
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 39-44, 2010
12010
Моделирование методов и средств многопараметрических измерений на основе одноэлементных первичных преобразователей
ОК Гусев, РИ ВОРОБЕЙ, АИ СВИСТУН, КЛ ТЯВЛОВСКИЙ, ...
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 33-37, 2009
12009
Математическое моделирование характеристик координатных парафазных фотоприемников
ВБ Яржембицкий, АИ Свистун, НВ Яржембицкая
НАУКА и ТЕХНИКА, 38-42, 2004
1*2004
Контроль сварных соединений магистральных трубопроводов большого диаметра методом ToFD
СВ Зданович, РИ Воробей, АИ Свистун
БНТУ, 2019
2019
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20