Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2019 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 1129 | 973 |
h-индекс | 12 | 11 |
i10-индекс | 14 | 12 |
Общий доступ
Просмотреть все8 статей
0 статей
доступно
недоступно
На основе финансирования
Соавторы
- Minghao QiPurdue UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене purdue.edu
- Andrew M. WeinerProfessor of Electrical and Computer Engineering, Purdue UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене purdue.edu
- Yi XUANUniversity of Pittsburgh, School of MedicineПодтвержден адрес электронной почты в домене pitt.edu
- Sangsik KimAssociate Professor of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене kaist.ac.kr
- Jose Jaramillo-VillegasPurdue University, Universidad Tecnológica de PereiraПодтвержден адрес электронной почты в домене utp.edu.co
- Min TengimecПодтвержден адрес электронной почты в домене imec-int.com
- Abdullah Al NomanFailure Analysis R&D Engineer at Intel CorporationПодтвержден адрес электронной почты в домене intel.com
- Victor YurlovPrincipal Engineer of Samsung Electromechanics (Optics, MEMS, ISP)Подтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Vladimir A. AksyukProject Leader, Physical Measurement Laboratory, NISTПодтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov
- Thomas LeBrunGroup Leader for Photonics and Optomechanics, NISTПодтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov
- Junyeob SongNational Institute of Standards and Technology & University of DelawareПодтвержден адрес электронной почты в домене NIST.GOV
- David LongNational Institute of Standards and TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov
- Nan Ei Yu (N. E. Yu)Gwngju Institute of Science and Technology (GIST)Подтвержден адрес электронной почты в домене gist.ac.kr