Подписаться
Гусев О, (Gusev O.)
Гусев О, (Gusev O.)
Belarusian National Technical University, Minsk, Belarus.
Подтвержден адрес электронной почты в домене bntu.by - Главная страница
Название
Процитировано
Процитировано
Год
Influence of rapid thermal treatment of initial silicon wafers on the electrophysical properties of silicon dioxide obtained by pyrogenous oxidation
VA Pilipenko, VA Solodukha, A Zharin, O Gusev, R Vorobey, ...
High Temperature Material Processes: An International Quarterly of High …, 2019
172019
Photoelectric semiconductor converters with a large dynamic range
SL Yarzhembitskaya N. KIERCZYŃSKI Konrad, Vorobey R., Gusev O., Tyavlovsky K ...
Przeglad electrotechniczny, 75-78, 2014
15*2014
Controlling the characteristics of photovoltaic cells based on their own semi-conductors
NY K. Kierczynski., R. Vorobey, O. Gusev, K. Tyavlovsky, A. Svistun, L ...
Przeglad Elektrotechniczny, 81-85, 2015
14*2015
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения потенциала по поверхности полупроводниковых пластин
КЛТ РИ Воробей, ОК Гусев, АЛ Жарин, АН Петлицкий, ВА Пилипенко, АС Турцевич ...
Приборы и методы измерений, 67-72, 2013
122013
Analysis of the electrophysical and photoelectric properties of nanocomposite polymers by the modified Kelvin probe
KU Pantsialeyeu, AU Krautsevich, IA Rovba, VI Lysenko, RI Vorobey, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (4), 386-397, 2017
112017
Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials
K Pantsialeyeu, A Zharin, O Gusev, R Vorobey, A Tyavlovsky, ...
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska 10, 2020
102020
Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с многофункциональными одноэлементными фотоприемниками
РИ Воробей, ОК Гусев, АИ Свистун, АК Тявловский, КЛ Тявловский, ...
Приборы и методы измерений 9 (3), 215-226, 2018
102018
Series of Photovoltaic Converters Based on Semiconductors with Intrinsic Photoconductivity
RI Vorobey, OK Gusev, AL Zharin, KU Pantsialeyeu, AI Svistun, ...
Приборы и методы измерений 12 (2), 108-116, 2021
82021
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина
АК Тявловский, АЛ Жарин, ОК Гусев, РИ Воробей, НИ Мухуров, ...
Приборы и методы измерений 8 (1), 61-72, 2017
82017
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
VA Pilipenko, VA Saladukha, VA Filipenya, RI Vorobey, OK Gusev, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (4), 344-356, 2017
72017
Kelvin probe error compensation based on harmonic analysis of measurement signal
AK Tyavlovsky, AL Zharin, OK Gusev, K Kierczynski
72014
Моделирование метрологических характеристик емкостных первичных преобразователей средств зондовой электрометрии
ЖАЛ Тявловский А.К., Гусев О.К.
Приборы и методы измерений., 122-127, 2011
72011
Semiconductor wafers testing based on electron work function of surface
K Panteleev, A Zharin, V Mikitsevich, O Gusev
Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering 2 (5), 2, 2020
62020
Analysis of surface defects of aluminum and its alloys with a scanning Kelvin probe
AK Tyavlovsky, AL Zharin, OK Gusev, RI Varabei, NI Muhurov, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (1), 61-72, 2017
62017
Неразрушающий контроль изделий с прецизионными поверхностями на основе методов зондовой электрометрии
ТКЛ Воробей Р. И., Гусев О. К., Дубаневич А. В., Жарин А. Л., Пантелеев К ...
Неразрушающий контроль и диагностика, 4-17, 2016
6*2016
STUDY OF SILICON-INSULATOR STRUCTURE DEFECTS BASED ON ANALYSIS OF A SPATIAL DISTRIBUTION OF A SEMICONDUCTOR WAFERS’SURFACE POTENTIAL
RI Vorobey, OK Gusev, AL Zharin, AN Petlitsky, VA Pilipenko, ...
Devices and Methods of Measurements, 67-72, 2015
52015
Friction surface control by contact potential difference methods
AL Zharin, OK Gusev, AI Svistun, AK Tyavlovsky
Izvestiya TulGU. Technical science, 286-295, 2011
52011
Metrological performance modeling of probe electrometers capacitive sensors
ALZ AK Tyavlovsky, OK Gusev
Devices and methods of measurement, 122-127, 2011
5*2011
Kelvin probe’s stray capacitance and noise simulation
ALZ S Danyluk, AV Dubanevich,OK Gusev, AI Svistun, AK Tyavlovsky, KL ...
Приборы и методы измерений, 94-98, 2014
3*2014
Моделирование методов и средств многопараметрических измерений на основе одноэлементных первичных преобразователей
ТАК Яржембицкая Н.В. Тявловский К.Л., Гусев О.К., Воробей Р.И., Свистун А.И.
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 33-37, 2009
32009
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20