Гусев О, (Gusev O.)
Гусев О, (Gusev O.)
Belarusian National Technical University, Minsk, Belarus.
Подтвержден адрес электронной почты в домене bntu.by - Главная страница
НазваниеПроцитированоГод
Controlling the characteristics of photovoltaic cells based on their own semi-conductors
NY K. Kierczynski., R. Vorobey, O. Gusev, K. Tyavlovsky, A. Svistun, L ...
Przeglad Elektrotechniczny, 81-85, 2015
8*2015
Analysis of surface defects of aluminum and its alloys with a scanning Kelvin probe
AK Tyavlovsky, AL Zharin, OK Gusev, RI Varabei, NI Muhurov, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (1), 61-72, 2017
62017
Моделирование метрологических характеристик емкостных первичных преобразователей средств зондовой электрометрии
ЖАЛ Тявловский А.К., Гусев О.К.
Приборы и методы измерений., 122-127, 2011
62011
Analysis of the electrophysical and photoelectric properties of nanocomposite polymers by the modified Kelvin probe
KU Pantsialeyeu, AU Krautsevich, IA Rovba, VI Lysenko, RI Vorobey, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (4), 386-397, 2017
52017
Metrological performance modeling of probe electrometers capacitive sensors
ALZ AK Tyavlovsky, OK Gusev
Devices and methods of measurement, 122-127, 2011
52011
STUDY OF SILICON-INSULATOR STRUCTURE DEFECTS BASED ON ANALYSIS OF A SPATIAL DISTRIBUTION OF A SEMICONDUCTOR WAFERS’SURFACE POTENTIAL
RI Vorobey, OK Gusev, AL Zharin, AN Petlitsky, VA Pilipenko, ...
Devices and Methods of Measurements, 67-72, 2015
42015
Photoelectric semiconductor converters with a large dynamic range
SL Yarzhembitskaya N. KIERCZYŃSKI Konrad, Vorobey R., Gusev O., Tyavlovsky K ...
Przeglad electrotechniczny, 75-78, 2014
4*2014
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения потенциала по поверхности полупроводниковых пластин
КЛТ РИ Воробей, ОК Гусев, АЛ Жарин, АН Петлицкий, ВА Пилипенко, АС Турцевич ...
Приборы и методы измерений, 67-72, 2013
42013
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина
АК Тявловский, АЛ Жарин, ОК Гусев, РИ Воробей, НИ Мухуров, ...
Приборы и методы измерений 8 (1), 2017
32017
Kelvin probe error compensation based on harmonic analysis of measurement signal
AK Tyavlovsky, AL Zharin, OK Gusev, K Kierczynski
32014
Моделирование методов и средств многопараметрических измерений на основе одноэлементных первичных преобразователей
ТАК Яржембицкая Н.В. Тявловский К.Л., Гусев О.К., Воробей Р.И., Свистун А.И.
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 33-37, 2009
32009
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
VA Pilipenko, VA Saladukha, VA Filipenya, RI Vorobey, OK Gusev, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (4), 344-356, 2017
22017
Неразрушающий контроль изделий с прецизионными поверхностями на основе методов зондовой электрометрии
ТКЛ Воробей Р. И., Гусев О. К., Дубаневич А. В., Жарин А. Л., Пантелеев К ...
Неразрушающий контроль и диагностика, 4-17, 2016
22016
The identification algorithm of metrological characteristics of wide-range photovoltaic semiconductor converters with multiply impurities
OK Gusev, AI Svistun, LI Shadurskaya, NV Yarjembitskaya
Devices and methods of measurements, 99-103, 2015
22015
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ НУЛЬ-ДЕТЕКТОРЫ ДЛЯ СИСТЕМ ПЕРЕДАЧИ ДАННЫХ
РИ Воробей, ОК Гусев, ВП Киреенко, АИ Свистун, КЛ Тявловский, ...
Датчики и системы, 28-30, 2006
22006
Kelvin probe’s stray capacitance and noise simulation
ALZ S Danyluk, AV Dubanevich,OK Gusev, AI Svistun, AK Tyavlovsky, KL ...
Приборы и методы измерений, 94-98, 2014
1*2014
Калибровка волоконно-оптических сенсоров с использованием двухбарьерных фотодетекторов
КЛ Гусев, О.К., Тявловский, АК Тявловский, РИ Воробей, АИ Свистун, ...
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 39-44, 2010
12010
INFLUENCE OF RAPID THERMAL TREATMENT OF INITIAL SILICON WAFERS ON THE ELECTROPHYSICAL PROPERTIES OF SILICON DIOXIDE OBTAINED BY PYROGENOUS OXIDATION
VA Pilipenko, VA Solodukha, A Zharin, O Gusev, R Vorobey, ...
High Temperature Material Processes: An International Quarterly of High …, 2019
2019
Modeling of Spatial Inhomogeneity of Free Charge Carriers in Measuring Procedure of Their Local Concentration
OK Gusev
Science & Technique, 26-32, 2018
2018
Calculation of Metrological Characteristics of pH Control System for Mixture of Acids and Alkalis
RI Vorobey, OK Gusev
Science & Technique, 50-54, 2018
2018
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20