Гусев О, (Gusev O.)
Гусев О, (Gusev O.)
Belarusian National Technical University, Minsk, Belarus.
Подтвержден адрес электронной почты в домене bntu.by - Главная страница
НазваниеПроцитированоГод
Controlling the characteristics of photovoltaic cells based on their own semi-conductors
NY K. Kierczynski., R. Vorobey, O. Gusev, K. Tyavlovsky, A. Svistun, L ...
Przeglad Elektrotechniczny, 81-85, 2015
7*2015
Analysis of surface defects of aluminum and its alloys with a scanning Kelvin probe
AK Tyavlovsky, AL Zharin, OK Gusev, RI Varabei, NI Muhurov, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (1), 61-72, 2017
52017
Analysis of the electrophysical and photoelectric properties of nanocomposite polymers by the modified Kelvin probe
KU Pantsialeyeu, AU Krautsevich, IA Rovba, VI Lysenko, RI Vorobey, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (4), 386-397, 2017
42017
Metrological performance modeling of probe electrometers capacitive sensors
ALZ AK Tyavlovsky, OK Gusev
Devices and methods of measurement, 122-127, 2011
42011
Моделирование метрологических характеристик емкостных первичных преобразователей средств зондовой электрометрии
ЖАЛ Тявловский А.К., Гусев О.К.
Приборы и методы измерений., 122-127, 2011
42011
Kelvin probe error compensation based on harmonic analysis of measurement signal
AK Tyavlovsky, AL Zharin, OK Gusev, K Kierczynski
32014
Photoelectric semiconductor converters with a large dynamic range
SL Yarzhembitskaya N. KIERCZYŃSKI Konrad, Vorobey R., Gusev O., Tyavlovsky K ...
Przeglad electrotechniczny, 75-78, 2014
3*2014
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения потенциала по поверхности полупроводниковых пластин
КЛТ РИ Воробей, ОК Гусев, АЛ Жарин, АН Петлицкий, ВА Пилипенко, АС Турцевич ...
Приборы и методы измерений, 67-72, 2013
32013
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина
АК Тявловский, АЛ Жарин, ОК Гусев, РИ Воробей, НИ Мухуров, ...
Приборы и методы измерений 8 (1), 2017
22017
Неразрушающий контроль изделий с прецизионными поверхностями на основе методов зондовой электрометрии
ТКЛ Воробей Р. И., Гусев О. К., Дубаневич А. В., Жарин А. Л., Пантелеев К ...
Неразрушающий контроль и диагностика, 4-17, 2016
22016
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ НУЛЬ-ДЕТЕКТОРЫ ДЛЯ СИСТЕМ ПЕРЕДАЧИ ДАННЫХ
РИ Воробей, ОК Гусев, ВП Киреенко, АИ Свистун, КЛ Тявловский, ...
Датчики и системы, 28-30, 2006
22006
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
VA Pilipenko, VA Saladukha, VA Filipenya, RI Vorobey, OK Gusev, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (4), 344-356, 2017
12017
Kelvin probe’s stray capacitance and noise simulation
ALZ S Danyluk, AV Dubanevich,OK Gusev, AI Svistun, AK Tyavlovsky, KL ...
Приборы и методы измерений, 94-98, 2014
1*2014
Калибровка волоконно-оптических сенсоров с использованием двухбарьерных фотодетекторов
КЛ Гусев, О.К., Тявловский, АК Тявловский, РИ Воробей, АИ Свистун, ...
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 39-44, 2010
12010
Моделирование методов и средств многопараметрических измерений на основе одноэлементных первичных преобразователей
ТАК Яржембицкая Н.В. Тявловский К.Л., Гусев О.К., Воробей Р.И., Свистун А.И.
Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 33-37, 2009
12009
Measuring transducers for optical diagnostic system with multifunctional unitary photovoltaic converters
R Vorobei, OK Gusev, A Svistun, AK Tyavlovsky, KL Tyavlovsky, ...
DEVICES AND METHODS OF MEASUREMENTS 9 (3), 215-226, 2018
2018
Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с многофункциональными одноэлементными фотоприемниками
РИ Воробей, ОК Гусев, АИ Свистун, АК Тявловский, КЛ Тявловский, ...
Приборы и методы измерений 9 (3), 2018
2018
Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин
РИ Воробей, ОК Гусев, АЛ Жарин, КВ Пантелеев, АВ Самарина, ...
Белорусско-Российский университет, 2017
2017
KELVIN PROBE SELF-CALIBRATION MODE FOR SEMICONDUCTOR WAFERS PROPERTIES MONITORING
RI Vorobey, OK Gusev, AL Zharin, AN Petlitsky, VA Pilipenko, ...
DEVICES AND METHODS OF MEASUREMENTS, 46-52, 2014
2014
Designing and controlling the metrological parameters of photoelectric transducers based on semiconductors with multiply-charged dopants
NV Gusev, O.K., Svistun, A.I., Shadurskay, L.I., Yarzhembitskaya
Automation and Remote Control, 288-294, 2013
2013
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20