Influence of rapid thermal treatment of initial silicon wafers on the electrophysical properties of silicon dioxide obtained by pyrogenous oxidation VA Pilipenko, VA Solodukha, A Zharin, O Gusev, R Vorobey, ... High Temperature Material Processes: An International Quarterly of High …, 2019 | 17 | 2019 |
Photoelectric semiconductor converters with a large dynamic range SL Yarzhembitskaya N. KIERCZYŃSKI Konrad, Vorobey R., Gusev O., Tyavlovsky K ... Przeglad electrotechniczny, 75-78, 2014 | 15* | 2014 |
Controlling the characteristics of photovoltaic cells based on their own semi-conductors NY K. Kierczynski., R. Vorobey, O. Gusev, K. Tyavlovsky, A. Svistun, L ... Przeglad Elektrotechniczny, 81-85, 2015 | 14* | 2015 |
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения потенциала по поверхности полупроводниковых пластин КЛТ РИ Воробей, ОК Гусев, АЛ Жарин, АН Петлицкий, ВА Пилипенко, АС Турцевич ... Приборы и методы измерений, 67-72, 2013 | 12 | 2013 |
Analysis of the electrophysical and photoelectric properties of nanocomposite polymers by the modified Kelvin probe KU Pantsialeyeu, AU Krautsevich, IA Rovba, VI Lysenko, RI Vorobey, ... Devices and Methods of Measurements 8 (4), 386-397, 2017 | 11 | 2017 |
Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials K Pantsialeyeu, A Zharin, O Gusev, R Vorobey, A Tyavlovsky, ... Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska 10, 2020 | 10 | 2020 |
Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с многофункциональными одноэлементными фотоприемниками РИ Воробей, ОК Гусев, АИ Свистун, АК Тявловский, КЛ Тявловский, ... Приборы и методы измерений 9 (3), 215-226, 2018 | 10 | 2018 |
Series of Photovoltaic Converters Based on Semiconductors with Intrinsic Photoconductivity RI Vorobey, OK Gusev, AL Zharin, KU Pantsialeyeu, AI Svistun, ... Приборы и методы измерений 12 (2), 108-116, 2021 | 8 | 2021 |
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина АК Тявловский, АЛ Жарин, ОК Гусев, РИ Воробей, НИ Мухуров, ... Приборы и методы измерений 8 (1), 61-72, 2017 | 8 | 2017 |
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods VA Pilipenko, VA Saladukha, VA Filipenya, RI Vorobey, OK Gusev, ... Devices and Methods of Measurements 8 (4), 344-356, 2017 | 7 | 2017 |
Kelvin probe error compensation based on harmonic analysis of measurement signal AK Tyavlovsky, AL Zharin, OK Gusev, K Kierczynski | 7 | 2014 |
Моделирование метрологических характеристик емкостных первичных преобразователей средств зондовой электрометрии ЖАЛ Тявловский А.К., Гусев О.К. Приборы и методы измерений., 122-127, 2011 | 7 | 2011 |
Semiconductor wafers testing based on electron work function of surface K Panteleev, A Zharin, V Mikitsevich, O Gusev Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering 2 (5), 2, 2020 | 6 | 2020 |
Analysis of surface defects of aluminum and its alloys with a scanning Kelvin probe AK Tyavlovsky, AL Zharin, OK Gusev, RI Varabei, NI Muhurov, ... Devices and Methods of Measurements 8 (1), 61-72, 2017 | 6 | 2017 |
Неразрушающий контроль изделий с прецизионными поверхностями на основе методов зондовой электрометрии ТКЛ Воробей Р. И., Гусев О. К., Дубаневич А. В., Жарин А. Л., Пантелеев К ... Неразрушающий контроль и диагностика, 4-17, 2016 | 6* | 2016 |
STUDY OF SILICON-INSULATOR STRUCTURE DEFECTS BASED ON ANALYSIS OF A SPATIAL DISTRIBUTION OF A SEMICONDUCTOR WAFERS’SURFACE POTENTIAL RI Vorobey, OK Gusev, AL Zharin, AN Petlitsky, VA Pilipenko, ... Devices and Methods of Measurements, 67-72, 2015 | 5 | 2015 |
Friction surface control by contact potential difference methods AL Zharin, OK Gusev, AI Svistun, AK Tyavlovsky Izvestiya TulGU. Technical science, 286-295, 2011 | 5 | 2011 |
Metrological performance modeling of probe electrometers capacitive sensors ALZ AK Tyavlovsky, OK Gusev Devices and methods of measurement, 122-127, 2011 | 5* | 2011 |
Kelvin probe’s stray capacitance and noise simulation ALZ S Danyluk, AV Dubanevich,OK Gusev, AI Svistun, AK Tyavlovsky, KL ... Приборы и методы измерений, 94-98, 2014 | 3* | 2014 |
Моделирование методов и средств многопараметрических измерений на основе одноэлементных первичных преобразователей ТАК Яржембицкая Н.В. Тявловский К.Л., Гусев О.К., Воробей Р.И., Свистун А.И. Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, 33-37, 2009 | 3 | 2009 |