Alexander Stronski

Процитировано

	Все	Начиная с 2018 г.
Статистика цитирования	1251	425
h-индекс	22	12
i10-индекс	36	15

120

19931994199519961997199819992000200120022003200420052006200720082009201020112012201320142015201620172018201920202021202220234 12 5 1 9 40 30 32 44 24 44 32 14 30 30 24 28 33 30 33 40 43 55 70 102 94 101 104 55 53 16

Общий доступ

Просмотреть все

2 статьи

доступно

недоступно

На основе финансирования

Соавторы

Alexei MESHALKINInstitute of Applied Physics, Chisinau, MoldovaПодтвержден адрес электронной почты в домене ifa.md
Lytvyn Oksana, Литвин ОксанаКиївський університет імені Бориса ГрінченкаПодтвержден адрес электронной почты в домене kubg.edu.ua
Safa KasapDistinguished Professor, Electrical Engineering, University of Saskatchewan, CanadaПодтвержден адрес электронной почты в домене usask.ca
Міца Володимир (Mitsa V.)Uzhhorod National University (Ужгородський національний університет)Подтвержден адрес электронной почты в домене uzhnu.edu.ua
Miklos VeresWigner Research Centre for PhysicsПодтвержден адрес электронной почты в домене wigner.hu
Roman HolombPhD in Physics and Mathematics, Uzhhorod National UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене uzhnu.edu.ua
Ігор Ліщинський, Igor Lishchynskyyдоцент кафедри теоретичної і експериментальної фізики,Подтвержден адрес электронной почты в домене pnu.edu.ua
P M Lytvyn, P M Litvin, П М ЛитвинSenior Researcher, V.Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics NAS UkraineПодтвержден адрес электронной почты в домене isp.kiev.ua
Павло Москвін / P. MoskvinЗав. кафедрою фізики та вм, Житомирська політехнікаПодтвержден адрес электронной почты в домене ztu.edu.ua
Dorian MinkovTechnical University-SofiaПодтвержден адрес электронной почты в домене tu-sofia.bg
Vasyl P. Kladko, V.P. Klad'ko, V. Kladk...Corresponding Member of NAS of Ukraine, Professor, Institute of Semiconductors Physics NAS ofПодтвержден адрес электронной почты в домене isp.kiev.ua
Viktor Strelchuk; V.V.Strelchuk; V.V.Str...Head of Laboratory; V. E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics, National Academy ofПодтвержден адрес электронной почты в домене isp.kiev.ua
Yuriy NasekaИнститут физики полупроводников им. В.Е. Лашкарева НАН Украины, Лаборатория оптической субмикроннойПодтвержден адрес электронной почты в домене isp.kiev.ua

Alexander Stronski

Head of department, Institute of Semiconductor Physics NAS Ukraine

Подтвержден адрес электронной почты в домене isp.kiev.ua

chalcogenide glasses optical properties raman spectra materials science holography optical elements


Название По числу цитат По году По названию	Процитировано Процитировано	Год
Holographic optical element fabrication using chalcogenide layers I.Z.Indutnyi, A.V.Stronski, S.A.Kostyukevich, P.F.Romanenko, P.E Shepeliavi Optical Engineering 34 (4), 1030-1039, 1995	102	1995
Modulated-temperature differential scanning calorimetry and Raman spectroscopy studies of AsxS100− x glasses T Wagner, SO Kasap, M Vlcek, A Sklenar, A Stronski Journal of materials science 33, 5581-5588, 1998	65	1998
Photosensitive properties of chalcogenide vitreous semiconductors in diffractive and holographic technologies applications AV Stronski, M Vlcek Journal of Optoelectronics and Advanced Materials 4 (3), 699-704, 2002	56	2002
Structure and imaging properties of As40S60− xSex glasses M Vlček, AV Stronski, A Sklenař, T Wagner, SO Kasap Journal of Non-Crystalline Solids 266, 964-968, 2000	46	2000
Comparison of structural transforma‐tions in bulk and as‐evaporated optical media under action of polychromatic or photon‐energy dependent monochromatic illumination R Holomb, V Mitsa, O Petrachenkov, M Veres, A Stronski, M Vlček physica status solidi (c) 8 (9), 2705-2708, 2011	44	2011
The structure of AsxS100− x glasses studied by temperature-modulated differential scanning calorimetry and Raman spectroscopy T Wagner, SO Kasap, M Vlček, A Sklenař, A Stronski Journal of non-crystalline solids 227, 752-756, 1998	43	1998
Photostimulated processes in chalcogenide glassy semiconductors and their practical application EF Venger, AV Melnichuk, AV Stronski Akademperiodika, Kiev, 2007	40	2007
Direct surface relief formation on As2S3–Se nanomultilayers in dependence on polarization states of recording beams E Achimova, A Stronski, V Abaskin, A Meshalkin, A Paiuk, A Prisacar, ... Optical Materials 47, 566-572, 2015	38	2015
Raman spectra of Ag-and Cu-photo-doped As40S60− xSex films AV Stronski, M Vlček, AI Stetsun, A Sklenař, PE Shepeliavyi Journal of non-crystalline solids 270 (1-3), 129-136, 2000	36	2000
Compositional dependencies in the vibrational properties of amorphous Ge-As-Se and Ge-Sb-Te chalcogenide alloys studied by Raman spectroscopy K Shportko, L Revutska, O Paiuk, J Baran, A Stronski, A Gubanova, ... Optical Materials 73, 489-496, 2017	34	2017
Optical characterization of thermally evaporated thin films of As40S40Se20 chalcogenide glass by reflectance measurements E Marquez, JM González-Leal, R Prieto-Alcón, M Vlcek, A Stronski, ... Applied Physics A 67, 371-378, 1998	34	1998
Thermal relaxation of the structural and optical properties of amorphous As40S60− xSex films JM Gonzalez-Leal, M Vlček, R Prieto-Alcon, A Stronski, T Wagner, ... Journal of non-crystalline solids 326, 146-153, 2003	33	2003
Application of As40S60− xSex layers for high-efficiency grating production AV Stronski, M Vlček, A Sklenar, PE Shepeljavi, SA Kostyukevich, ... Journal of non-crystalline solids 266, 973-978, 2000	33	2000
Holographic and e-beam image recording in Ge5As37S58–Se nanomultilayer structures A Stronski, E Achimova, O Paiuk, A Meshalkin, V Abashkin, O Lytvyn, ... Nanoscale Research Letters 11 (1), 1-7, 2016	32	2016
Effect of doping by transitional elements on properties of chalcogenide glasses A Stronski, O Paiuk, A Gudymenko, V Klad’Ko, P Oleksenko, N Vuichyk, ... Ceramics International 41 (6), 7543-7548, 2015	32	2015
Surface relief formation in Ge5As37S58–Se nanomultilayers A Stronski, E Achimova, A Paiuk, V Abaskin, A Meshalkin, A Prisacar, ... Journal of Non-Crystalline Solids 409, 43-48, 2015	29	2015
Direct Magnetic Relief Recording Using As₄₀S₆₀: Mn–Se Nanocomposite Multilayer Structures A Stronski, E Achimova, O Paiuk, A Meshalkin, A Prisacar, G Triduh, ... Nanoscale Research Letters 12, 1-7, 2017	28	2017
Ellipsometry and AFM study of post-deposition transformations in vacuum-evaporated As–S–Se films MV Sopinskyy, PE Shepeliavyi, AV Stronski, EF Venger J. Optoelectron. Adv. Mater 7 (5), 2255-2266, 2005	28	2005
Imaging properties of As₄₀S₄₀Se₂₀ layers AV Stronski, M Vlček Opto-Electronics Review 8 (3), 263-267, 2000	26	2000
Imaging properties of As₄₀S₄₀Se₂₀ layers AV Stronski, M Vlček Opto-Electronics Review 8 (3), 263-267, 2000	26	2000

В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.

Статьи 1–20

Ссылок за год

Повторяющиеся цитирования

Объединенные цитирования

СоавторыСоавторы

Подписаться

Процитировано

Соавторы