Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2019 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 4033 | 746 |
h-индекс | 24 | 11 |
i10-индекс | 29 | 12 |
Соавторы
- Dieter WellerUniversity of YorkПодтвержден адрес электронной почты в домене york.ac.uk
- Xiangfeng DuanUniversity of California, Los AngelesПодтвержден адрес электронной почты в домене chem.ucla.edu
- Adam RondinoneCenter for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National LaboratoryПодтвержден адрес электронной почты в домене lanl.gov
- David E. LaughlinALCOA Professor of Physical Metallurgy, Materials Science and Engineering, Carnegie MellonПодтвержден адрес электронной почты в домене andrew.cmu.edu
- Jian ChenNanosys, Seagate, University of Florida, Ohio State University, Peking UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене nanosysinc.com
- Roy ChantrellUniversity of YorkПодтвержден адрес электронной почты в домене york.ac.uk
- Oleg MryasovWestern Digital , University of AlabamaПодтвержден адрес электронной почты в домене wdc.com
- Lei LiUniversity of PittsburghПодтвержден адрес электронной почты в домене pitt.edu
- René J.M. van de VeerdonkAtom Computing, Google, Seagate Technology, Eindhoven University of TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене alumnus.tue.nl
- Mostafa A. El-SayedJulius Brown Chair and Regents Professor,Department of Chemistry and Biochemistry, Georgia Tech.Подтвержден адрес электронной почты в домене gatech.edu
Подписаться
Chao Liu
Honeywell, Nanosys, Seagate
Подтвержден адрес электронной почты в домене berkeley.edu