Подписаться
Igor Kharitonov
Igor Kharitonov
НИУ ВШЭ, МИЭМ
Подтвержден адрес электронной почты в домене hse.ru
Название
Процитировано
Процитировано
Год
SOI device parameter investigation and extraction for VLSI radiation hardness modeling with SPICE
KO Petrosjanc, AS Adonin, IA Kharitonov, MV Sicheva
Microelectronic Test Structures, 1994. ICMTS 1994. Proceedings of the 1994 …, 1994
221994
Hardware-Software Subsystem for MOSFETs Characteristic Measurement and Parameter Extraction with Account for Radiation Effects
KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky
Advanced Materials Research 718, 750-755, 2013
202013
Компактная макромодель КНИ/КНС МОП-транзистора, учитывающая радиационные эффекты
КО Петросянц, ЛМ Самбурский, ИА Харитонов, АП Ятманов
Известия вузов. Электроника 1, 87, 2011
192011
VLSI device parameters extraction for radiation hardness modeling with SPICE
KO Petrosjanc, IA Kharitonov
Microelectronic Test Structures, 1993. ICMTS 1993. Proceedings of the 1993 …, 1993
171993
Simulation of total dose influence on analog-digital SOI/SOS CMOS circuits with EKV-RAD macromodel
KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky, VN Bogatyrev, ...
Design & Test Symposium, 2013 East-West, 1-6, 2013
162013
SOI/SOS MOSFET compact macromodel taking into account radiation effects
KO Petrosyants, LM Sambursky, IA Kharitonov, AP Yatmanov
Russian Microelectronics 40 (7), 457-462, 2011
162011
Simulation of Radiation Effects in SOI CMOS Circuits with BSIMSOI-RAD macromodel
KO Petrosjanc, IA Kharitonov, EV Orekhov, LM Sambursky, AP Yatmanov
Proc. of IEEE East-West Design & Test Intl. Symposium (EWDTS'09), Moscow …, 2009
152009
SOI/SOS MOSFET universal compact SPICE model with account for radiation effects
KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky
Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2015 Joint International …, 2015
112015
Electro-thermal simulation: a new subsystem in Mentor Graphics IC Design flow
K Petrosjanc, N Ryabov, I Kharitonov, PA Kozynko
Thermal Investigations of ICs and Systems, 70-74, 2009
112009
IV-Characteristics Measurement Error Resulting from Long Cables for Irradiated Bipolar Junction Transistors
KO Petrosyants, IA Kharitonov, LM Sambursky, MV Kozhukhov
Advanced Materials Research 1083, 185-189, 2015
82015
Electro-Thermal Design of Smart Power Devices and Integrated Circuits
KO Petrosyants, IA Kharitonov, NI Ryabov
Advanced Materials Research 918, 191-194, 2014
82014
Multi-level methodology for CMOS SOI/SOS MOSFET parameterization for IC radiation hardness simulation with SPICE
IA Kharitonov
International Journal 3 (2), 22-27, 2014
7*2014
Coupled TCAD-SPICE Simulation of Parasitic BJT Effect on SOI CMOS SRAM SEU
KO Petrosyants, IA Kharitonov, DA Popov
Известия высших учебных заведений, 96-97, 2013
62013
Реализация процесса электротеплового моделирования в САПР БИС Mentor Graphics
КО Петросянц, НИ Рябов, ИА Харитонов, ПА Козынко
Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем–2008. Сборник …, 2008
62008
Multilevel System for Thermal Design, Control and Management of Electronic Components
KO Petrosyants, IA Kharitonov, PA Kozynko, NI Ryabov
6*
Трехмерное моделирование радиационных токов утечки в субмикронных МОП-транзисторах со структурой кремний-на-изоляторе
КО Петросянц, ЕВ Орехов, ЛМ Самбурский, ИА Харитонов, ...
Известия вузов. Электроника, 82, 2010
52010
Thermal Design System for Chip-and Boardlevel Electronic Components
KO Petrosjanc, NI Rjabov, IA Kharitonov, PA Kozynko
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’09). Moscow …, 2009
52009
Software system for semiconductor devices, monolith and hybrid ICs thermal analysis
KO Petrosjanc, IA Kharitonov, NI Rybov, PP Maltcev
Proceedings of the conference on European design automation, 360-365, 1995
51995
Account for Radiation Effects in Signal Integrity Analysis of PCB Digital Systems
KO Petrosyants, IA Kharitonov
Digital System Design (DSD), 2013 Euromicro Conference on, 479-482, 2013
42013
Исследование стойкости к воздействию отдельных ядерных частиц ячеек КНИ КМОП ОЗУ методами смешанного 3D TCAD-SPICE моделирования
КО Петросянц, ИА Харитонов, ЕВ Орехов, ЛМ Самбурский, ...
Foresight, 2013
42013
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20