Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2019 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 890 | 434 |
h-индекс | 8 | 7 |
i10-индекс | 8 | 7 |
Общий доступ
Просмотреть все7 статей
1 статья
доступно
недоступно
На основе финансирования
Соавторы
- Bryan D. HueyUniversity of ConnecticutПодтвержден адрес электронной почты в домене uconn.edu
- Nitin P. PadtureOtis E. Randall University Professor, Brown UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене brown.edu
- Yuanyuan ZhouThe Hong Kong University of Science and Technology (HKUST)Подтвержден адрес электронной почты в домене ust.hk
- Linghan YeBruker Corp.Подтвержден адрес электронной почты в домене uconn.edu
- James L BosseUniversity of ConnecticutПодтвержден адрес электронной почты в домене uconn.edu
- Jose Luis Cruz-Campa, Ph.D.TD engineer, IntelПодтвержден адрес электронной почты в домене intel.com
- Justin LuriaSr. Electrical Engineer, RaytheonПодтвержден адрес электронной почты в домене raytheon.com
- Douglas AdamsonUniversity of ConnecticutПодтвержден адрес электронной почты в домене UConn.edu
- Reihaneh M SejoubsariUniversity of ConnecticutПодтвержден адрес электронной почты в домене uconn.edu
- Yusuf KhanDrexel University, University of Virginia, University of Connecticut Health Center, McLean HospitalПодтвержден адрес электронной почты в домене uchc.edu
Подписаться
Yasemin Kutes
Sr. Test R&D Engineer, Intel Corporation
Подтвержден адрес электронной почты в домене intel.com