Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2019 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 725 | 408 |
h-индекс | 15 | 10 |
i10-индекс | 17 | 10 |
Общий доступ
Просмотреть все21 статья
1 статья
доступно
недоступно
На основе финансирования
Соавторы
- Myung K KimUniversity of South FloridaПодтвержден адрес электронной почты в домене usf.edu
- Hui CaoProfessor of Applied Physics, Yale UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене yale.edu
- Michael C. CrossAssociate Professor of Instruction, University of South Florida Honors CollegeПодтвержден адрес электронной почты в домене honors.usf.edu
- David C. Clark, Ph.D.University of South FloridaПодтвержден адрес электронной почты в домене mail.usf.edu
- Jisoo HongUniversity of South FloridaПодтвержден адрес электронной почты в домене mail.usf.edu
- Brandon ReddingResearch Physicist, Naval Research LabПодтвержден адрес электронной почты в домене nrl.navy.mil
- Michael A. ChomaYale UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене yale.edu
- İkbal Şencan-EğilmezAssistant Professor of Radiology at Washington University in St. LouisПодтвержден адрес электронной почты в домене wustl.edu
- Damber ThapaUniversity of TorontoПодтвержден адрес электронной почты в домене utoronto.ca
- YANAN ZHIUniversity of Illinois at ChicagoПодтвержден адрес электронной почты в домене siom.ac.cn
- John HealyAssistant Professor, University College DublinПодтвержден адрес электронной почты в домене ucd.ie
- Bryan HennellyDepartment of Electronic Engineering, National University of Ireland MaynoothПодтвержден адрес электронной почты в домене cs.nuim.ie
- Sebastian KnitterPersonal (former Yale, Münster, Rostock)
Подписаться
Changgeng Liu
Samsung Research America
Подтвержден адрес электронной почты в домене mail.usf.edu - Главная страница