Построение измерителей контактной разности потенциалов КВ Пантелеев, ВА Микитевич, АЛ Жарин Приборы и методы измерений 7 (1), 7-15, 2016 | 40* | 2016 |
Цифровой измеритель контактной разности потенциалов КВ Пантелеев, АИ Свистун, АК Тявловский, АЛ Жарин Приборы и методы измерений 7 (2), 136-144, 2016 | 25* | 2016 |
Диагностика локальных изменений пластической деформации по работе выхода электрона КВ Пантелеев, АИ Свистун, АЛ Жарин Приборы и методы измерений 6 (1), 2015 | 25* | 2015 |
Анализ распределения электрофизических и фотоэлектрических свойств нанокомпозитных полимеров модифицированным зондом Кельвина КВ Пантелеев, АВ Кравцевич, ИА Ровба, ВИ Лысенок, РИ Воробей, ... Приборы и методы измерений 8 (4), 386-397, 2017 | 22* | 2017 |
Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона ГВ Шаронов, АЛ Жарин, НИ Мухуров, КВ Пантелеев Приборы и методы измерений 6 (2), 2015 | 20* | 2015 |
Charge sensitive techniques in tribology studies A Zharin, K Pantsialeyeu, M Opielak, P Rogalski Przegląd Elektrotechniczny 92 (11), 239-243, 2016 | 19 | 2016 |
Методы зондовой электрометрии для разработки и исследований свойств перспективных материалов АЛ Жарин, КВ Пантелеев, АК Тявловский ВГТУ, 2015 | 18* | 2015 |
Influence of rapid thermal treatment of initial silicon wafers on the electrophysical properties of silicon dioxide obtained by pyrogenous oxidation VA Pilipenko, VA Solodukha, A Zharin, O Gusev, R Vorobey, ... High Temperature Material Processes: An International Quarterly of High …, 2019 | 17 | 2019 |
Charge sensitive techniques in control of the homogeneity of optical metallic surfaces K Pantsialeyeu, A Zharin, K Kierczynski Przeglad Elektrotechniczny 92 (8), 192-195, 2016 | 15* | 2016 |
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина АК Тявловский, АЛ Жарин, ОК Гусев, РИ Воробей, НИ Мухуров, ... Приборы и методы измерений 8 (1), 61-72, 2017 | 14* | 2017 |
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods VA Pilipenko, VA Saladukha, VA Filipenya, RI Vorobey, OK Gusev, ... Devices and Methods of Measurements 8 (4), 344-356, 2017 | 13* | 2017 |
Методы и средства измерения контактной разности потенциалов на основе анализа компенсационной зависимости зонда Кельвина КВ Пантелеев | 13 | 2016 |
Methods for work function measurements for the test of a surface in a during friction KV Panteleyev, AI Svistun, AL Zharin Devices and Methods of Measurements, 107-113, 2015 | 12* | 2015 |
Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials K Pantsialeyeu, A Zharin, O Gusev, R Vorobey, A Tyavlovsky, ... Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska 10, 2020 | 10 | 2020 |
Determining the lifetime of minority charge carriers and iron impurity concentration in semiconductor structures with submicron layers A Zharin, K Pantsialeyeu, A Svistun, K Tyavlovsky Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering 2 (4), 3, 2020 | 9 | 2020 |
Приборный ряд фотоэлектрических преобразователей на основе полупроводников с собственной фотопроводимостью РИ Воробей, ОК Гусев, АЛ Жарин, КВ Пантелеев, АИ Свистун, ... Приборы и методы измерений 12 (2), 108-116, 2021 | 8* | 2021 |
Исследование локальных деформаций материалов методами зондовой электрометрии при различных видах нагружения АЛ Жарин, КВ Пантелеев, АИ Свистун Современные методы и технологии создания и обработки материалов, 39-46, 2015 | 7 | 2015 |
Semiconductor wafers testing based on electron work function of surface K Panteleev, A Zharin, V Mikitsevich, O Gusev Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering 2 (5), 2, 2020 | 6 | 2020 |
Неразрушающий контроль изделий с прецизионными поверхностями на основе методов зондовой электрометрии РИ Воробей, OK Гусев, AB Дубаневич, АЛ Жарин, КВ Пантелеев, ... Институт прикладной физики НАН Беларуси, 2016 | 6 | 2016 |
Реализация режима модулированной поверхностной фотоЭДС в конструкции средств неразрушающего контроля полупроводниковых пластин АЛ Жарин, ОК Гусев, РИ Воробей, КВ Пантелеев, АК Тявловский, ... БНТУ, 2017 | 4 | 2017 |