Подписаться
Константин Пантелеев, Pantsialeyeu K.
Константин Пантелеев, Pantsialeyeu K.
Belarusian National Technical University, Minsk, Belarus
Подтвержден адрес электронной почты в домене bntu.by - Главная страница
Название
Процитировано
Процитировано
Год
Построение измерителей контактной разности потенциалов
КВ Пантелеев, ВА Микитевич, АЛ Жарин
Приборы и методы измерений 7 (1), 7-15, 2016
40*2016
Цифровой измеритель контактной разности потенциалов
КВ Пантелеев, АИ Свистун, АК Тявловский, АЛ Жарин
Приборы и методы измерений 7 (2), 136-144, 2016
25*2016
Диагностика локальных изменений пластической деформации по работе выхода электрона
КВ Пантелеев, АИ Свистун, АЛ Жарин
Приборы и методы измерений 6 (1), 2015
25*2015
Анализ распределения электрофизических и фотоэлектрических свойств нанокомпозитных полимеров модифицированным зондом Кельвина
КВ Пантелеев, АВ Кравцевич, ИА Ровба, ВИ Лысенок, РИ Воробей, ...
Приборы и методы измерений 8 (4), 386-397, 2017
22*2017
Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона
ГВ Шаронов, АЛ Жарин, НИ Мухуров, КВ Пантелеев
Приборы и методы измерений 6 (2), 2015
20*2015
Charge sensitive techniques in tribology studies
A Zharin, K Pantsialeyeu, M Opielak, P Rogalski
Przegląd Elektrotechniczny 92 (11), 239-243, 2016
192016
Методы зондовой электрометрии для разработки и исследований свойств перспективных материалов
АЛ Жарин, КВ Пантелеев, АК Тявловский
ВГТУ, 2015
18*2015
Influence of rapid thermal treatment of initial silicon wafers on the electrophysical properties of silicon dioxide obtained by pyrogenous oxidation
VA Pilipenko, VA Solodukha, A Zharin, O Gusev, R Vorobey, ...
High Temperature Material Processes: An International Quarterly of High …, 2019
172019
Charge sensitive techniques in control of the homogeneity of optical metallic surfaces
K Pantsialeyeu, A Zharin, K Kierczynski
Przeglad Elektrotechniczny 92 (8), 192-195, 2016
15*2016
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина
АК Тявловский, АЛ Жарин, ОК Гусев, РИ Воробей, НИ Мухуров, ...
Приборы и методы измерений 8 (1), 61-72, 2017
14*2017
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
VA Pilipenko, VA Saladukha, VA Filipenya, RI Vorobey, OK Gusev, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (4), 344-356, 2017
13*2017
Методы и средства измерения контактной разности потенциалов на основе анализа компенсационной зависимости зонда Кельвина
КВ Пантелеев
132016
Methods for work function measurements for the test of a surface in a during friction
KV Panteleyev, AI Svistun, AL Zharin
Devices and Methods of Measurements, 107-113, 2015
12*2015
Digital contact potential probe in studying the deformation of dielectric materials
K Pantsialeyeu, A Zharin, O Gusev, R Vorobey, A Tyavlovsky, ...
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska 10, 2020
102020
Determining the lifetime of minority charge carriers and iron impurity concentration in semiconductor structures with submicron layers
A Zharin, K Pantsialeyeu, A Svistun, K Tyavlovsky
Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering 2 (4), 3, 2020
92020
Приборный ряд фотоэлектрических преобразователей на основе полупроводников с собственной фотопроводимостью
РИ Воробей, ОК Гусев, АЛ Жарин, КВ Пантелеев, АИ Свистун, ...
Приборы и методы измерений 12 (2), 108-116, 2021
8*2021
Исследование локальных деформаций материалов методами зондовой электрометрии при различных видах нагружения
АЛ Жарин, КВ Пантелеев, АИ Свистун
Современные методы и технологии создания и обработки материалов, 39-46, 2015
72015
Semiconductor wafers testing based on electron work function of surface
K Panteleev, A Zharin, V Mikitsevich, O Gusev
Euroasian Journal of Semiconductors Science and Engineering 2 (5), 2, 2020
62020
Неразрушающий контроль изделий с прецизионными поверхностями на основе методов зондовой электрометрии
РИ Воробей, OK Гусев, AB Дубаневич, АЛ Жарин, КВ Пантелеев, ...
Институт прикладной физики НАН Беларуси, 2016
62016
Реализация режима модулированной поверхностной фотоЭДС в конструкции средств неразрушающего контроля полупроводниковых пластин
АЛ Жарин, ОК Гусев, РИ Воробей, КВ Пантелеев, АК Тявловский, ...
БНТУ, 2017
42017
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20