Константин Пантелеев, Pantsialeyeu K.
Константин Пантелеев, Pantsialeyeu K.
БНТУ, приборостроительный факультет, кафедра информационно-измерительная техника и технологии
Подтвержден адрес электронной почты в домене bntu.by
Название
Процитировано
Процитировано
Год
Построение измерителей контактной разности потенциалов
КВ Пантелеев, ВА Микитевич, АЛ Жарин
Приборы и методы измерений 7 (1), 2016
27*2016
Диагностика локальных изменений пластической деформации по работе выхода электрона
КВ Пантелеев, АИ Свистун, АЛ Жарин
Приборы и методы измерений 6 (1), 2015
16*2015
Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона
ГВ Шаронов, АЛ Жарин, НИ Мухуров, КВ Пантелеев
Приборы и методы измерений 6 (2), 2015
15*2015
Methods for work function measurements for the test of a surface in a during friction
KV Panteleyev, AI Svistun, AL Zharin
Devices and Methods of Measurements, 107-113, 2015
13*2015
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина
АК Тявловский, АЛ Жарин, ОК Гусев, РИ Воробей, НИ Мухуров, ...
Приборы и методы измерений 8 (1), 2017
12*2017
Цифровой измеритель контактной разности потенциалов
КВ Пантелеев, АИ Свистун, АК Тявловский, АЛ Жарин
Приборы и методы измерений 7 (2), 2016
122016
Анализ распределения электрофизических и фотоэлектрических свойств нанокомпозитных полимеров модифицированным зондом Кельвина
КВ Пантелеев, АВ Кравцевич, ИА Ровба, ВИ Лысенок, РИ Воробей, ...
Приборы и методы измерений 8 (4), 2017
10*2017
Методы зондовой электрометрии для разработки и исследования свойств перспективных материалов
АК Тявловский, КВ Пантелеев, АЛ Жарин
Перспективные материалы и технологии, 381-394, 2015
10*2015
Charge sensitive techniques in tribology studies
A Zharin, K Pantsialeyeu, M Opielak, P Rogalski
Przegląd Elektrotechniczny 92 (11), 239--243, 2016
82016
Неразрушающий контроль изделий с прецизионными поверхностями на основе методов зондовой электрометрии
РИ Воробей, OK Гусев, AB Дубаневич, АЛ Жарин, КВ Пантелеев, ...
Институт прикладной физики НАН Беларуси, 2016
62016
Charge sensitive techniques in control of the homogeneity of optical metallic surfaces
A ZHARIN, K PANTSIALEYEU, K KIERCZYŃSKI
Przegląd Elektrotechniczny 92 (8), 190--193, 2016
62016
Исследование локальных деформаций материалов методами зондовой электрометрии при различных видах нагружения
АЛ Жарин, КВ Пантелеев, АИ Свистун
Современные методы и технологии создания и обработки материалов, 39-46, 2015
42015
INFLUENCE OF RAPID THERMAL TREATMENT OF INITIAL SILICON WAFERS ON THE ELECTROPHYSICAL PROPERTIES OF SILICON DIOXIDE OBTAINED BY PYROGENOUS OXIDATION
VA Pilipenko, VA Solodukha, A Zharin, O Gusev, R Vorobey, ...
High Temperature Material Processes: An International Quarterly of High …, 2019
32019
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
VА Pilipenko, VA Saladukha, VA Filipenya, RI Vorobey, OK Gusev, ...
Devices and Methods of Measurements 8 (4), 344-356, 2017
3*2017
Методы и средства измерения контактной разности потенциалов на основе анализа компенсационной зависимости зонда Кельвина
КВ Пантелеев
БНТУ, 2016
32016
Устройство сопряжения аналогового измерителя контактной разности потенциалов и хост-компьютера
ВА Микитевич, КВ Пантелеев
БНТУ, 2017
12017
Реализация режима модулированной поверхностной фотоЭДС в конструкции средств неразрушающего контроля полупроводниковых пластин
АЛ Жарин, ОК Гусев, РИ Воробей, КВ Пантелеев, АК Тявловский, ...
БНТУ, 2017
12017
Контроль качества отражающих оптических поверхностей высшего класса чистоты методами зондовой электрометрии
АК Тявловский, АЛ Жарин, КВ Пантелеев, АИ Свистун, НИ Мухуров, ...
БНТУ, 2017
12017
Методы исследования полимеров на основе зондового картирования электростатического потенциала
КВ Пантелеев, АВ Кравцевич, ИА Ровба, АИ Свистун, КЛ Тявловский, ...
Перспективные материалы и технологии, 27-29, 2017
12017
Малогабаритный аналоговый измеритель контактной разности потенциалов
ВА Микитевич, КВ Пантелеев, АЛ Жарин
БНТУ, 2016
12016
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20