Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2019 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 470 | 454 |
h-индекс | 7 | 7 |
i10-индекс | 7 | 6 |
Общий доступ
Просмотреть все1 статья
1 статья
доступно
недоступно
На основе финансирования
Соавторы
- Soonwan KwonSamsung ElectronicsПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Sungmeen MyungStaff Researcher, Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)Подтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Changkyu ChoiExecutive Vice President, Samsung Advanced Institute of TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Seungchul JungPrincipal Researcher, Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)Подтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Mingoo SeokColumbia University, Electrical EngineeringПодтвержден адрес электронной почты в домене ee.columbia.edu
- Jae-sun SeoCornell TechПодтвержден адрес электронной почты в домене cornell.edu
- Shihui YinHuawei Technologies, Co., Ltd.Подтвержден адрес электронной почты в домене asu.edu
- Minkyu KimQualcomm Technology Inc.Подтвержден адрес электронной почты в домене asu.edu
- Youngeun KimYale UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене yale.edu
- Seijoon KimSamsung Advanced Institute of TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Priyadarshini (Priya) PandaAssistant Professor, Electrical Engineering, Yale UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене yale.edu
- Ryo NatsuakiAssociate Professor of Department of Electrical Engineering and Information Systems, The UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене g.ecc.u-tokyo.ac.jp
Подписаться
Hyunsoo Kim
SAMSUNG ADVANCED INSTITUTE OF TECHNOLOGY (SAIT), Principal Researcher
Подтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com