Подписаться
Стаськов Николай Иванович (N.I.Stas'kov, N.I.Staskov, Nikola Stas'kov)
Стаськов Николай Иванович (N.I.Stas'kov, N.I.Staskov, Nikola Stas'kov)
Могилевский государственный университет имени А.А.Кулешова (Mogilev State A. Kuleshov University)
Подтвержден адрес электронной почты в домене msu.by
Название
Процитировано
Процитировано
Год
Оптика
ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов, НС Чичерова
Могилевский государственный областной институт развития образования, 2013
112013
Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом
НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич, АИ Кулак, ...
Физико-технический институт им. АФ Иоффе Российской академии наук, РФ, 2018
52018
Учёт влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрии
НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич, АБ Сотский, ЛИ Сотская
52012
Оптические характеристики естественного поверхностного слоя на кремниевой подложке
НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич, НА Крекотень, ...
Известия Гомельского государственного университета им. Ф. Скорины, 60-62, 2006
52006
Исследование молекулярной ориентации в вытянутых промышленных пленках ПЭТФ с помощью спектроскопии НПВО
ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов
Магілёўскі дзяржаўны ўніверсітэт імя АА Куляшова, 2004
52004
Эллипсометрия переходных слоев полупроводник–диэлектрик
НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич, НА Крекотень
Проблемы физики, математики и техники, 18-24, 2013
42013
Моделирование переходного слоя слоем диполей при эллипсометрическом исследовании диэлектриков и полупроводников
НИ Стаськов, ВВ Филиппов, НА Крекотень
Оптика неоднородных структур-2011, 83-85, 2011
42011
Моделирование переходных слоев в структуре полупроводник-диэлектрик-полупроводник
НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич
Могилевский государственный университет имени АА Кулешова, 2011
32011
Применение дисперсионных соотношений Крамерса-Кронига для решения обратной задачи спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения
ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов
Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук …, 2007
32007
Оптические характеристики отожженных пленок титаната бария, сформированных золь-гель методом
НИ Стаськов, АБ Сотский, СС Михеев, НВ Гапоненко, ПА Холов, ...
Журнал прикладной спектроскопии 87 (6), 918-925, 2020
22020
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНЫХ КВАРЦЕВЫХ ПЛАСТИН ПРИ УГЛАХ БРЮСТЕРА МЕТОДОМ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ
НИ Стаськов, АА Мухаммедмурадов, НА Крекотень, СО Парашков
Журнал прикладной спектроскопии 87 (1), 122-129, 2020
22020
Аналитическое решение обратной спектрофотометрической задачи для прозрачного слоя на поглощающей подложке
НИ Стаськов
Проблемы физики, математики и техники, 31-37, 2015
22015
Спектры оптических характеристик титана с бинарным поверхностным слоем
НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, АН Петлицкий
Оптика и спектроскопия 112 (6), 952-952, 2012
22012
Структура и электронное строение поверхностных слоев пластин кремния после обработки в низкоэнергетической плазме водорода и аргона
СЮ Турищев, ВА Терехов, ЕВ Паринова, АВ Мазаник, ОВ Королик, ...
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники, 15-20, 2011
22011
Определение параметров полупроводниковых подложек с учетом естественных поверхностных слоев методом спектральной эллипсометрии
ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов, АБ Сотский
БГУ, 2010
22010
Эллипсометрия кремниевой подложки с естественным поверхностным слоем
НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛМ Сотская, ИВ Ивашкевич
Магілёўскі дзяржаўны ўніверсітэт імя АА Куляшова, 2007
22007
Спектроскопия слоев на плоскопараллельных подложках
АБ Сотский, СС Михеев, НИ Стаськов, ЛИ Сотская
Оптика и спектроскопия 128 (8), 1133-1143, 2020
12020
Спектроэллипсометрия кварцевых пластин
АВ Шульга, НИ Стаськов, НА Крекотень
Белорусско-Российский университет, 2019
12019
ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПЛЕНОК ОКСИДА ЦИНКА НА СТЕКЛЯННЫХ ПОДЛОЖКАХ
НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ВВ Филиппов, БГ Шулицкий, ...
Журнал прикладной спектроскопии 85 (4), 658-665, 2018
12018
ИССЛЕДОВАНИЕ НАНОРАЗМЕРНЫХ СЛОЕВ НА СПЕКТОФОТОМЕТРЕ PHOTON RT
АБ Сотский, КН Кривецкий, АА Федотко, ИС Дзен, СО Парашков, ...
Спектрометрические методы анализа, 101-105, 2013
12013
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20