| Оптика ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов, НС Чичерова Могилевский государственный областной институт развития образования, 2013 | 11 | 2013 |
| Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич, АИ Кулак, ... Физико-технический институт им. АФ Иоффе Российской академии наук, РФ, 2018 | 5 | 2018 |
| Учёт влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрии НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич, АБ Сотский, ЛИ Сотская | 5 | 2012 |
| Оптические характеристики естественного поверхностного слоя на кремниевой подложке НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич, НА Крекотень, ... Известия Гомельского государственного университета им. Ф. Скорины, 60-62, 2006 | 5 | 2006 |
| Исследование молекулярной ориентации в вытянутых промышленных пленках ПЭТФ с помощью спектроскопии НПВО ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов Магілёўскі дзяржаўны ўніверсітэт імя АА Куляшова, 2004 | 5 | 2004 |
| Эллипсометрия переходных слоев полупроводник–диэлектрик НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич, НА Крекотень Проблемы физики, математики и техники, 18-24, 2013 | 4 | 2013 |
| Моделирование переходного слоя слоем диполей при эллипсометрическом исследовании диэлектриков и полупроводников НИ Стаськов, ВВ Филиппов, НА Крекотень Оптика неоднородных структур-2011, 83-85, 2011 | 4 | 2011 |
| Моделирование переходных слоев в структуре полупроводник-диэлектрик-полупроводник НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич Могилевский государственный университет имени АА Кулешова, 2011 | 3 | 2011 |
| Применение дисперсионных соотношений Крамерса-Кронига для решения обратной задачи спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук …, 2007 | 3 | 2007 |
| Оптические характеристики отожженных пленок титаната бария, сформированных золь-гель методом НИ Стаськов, АБ Сотский, СС Михеев, НВ Гапоненко, ПА Холов, ... Журнал прикладной спектроскопии 87 (6), 918-925, 2020 | 2 | 2020 |
| ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНЫХ КВАРЦЕВЫХ ПЛАСТИН ПРИ УГЛАХ БРЮСТЕРА МЕТОДОМ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ НИ Стаськов, АА Мухаммедмурадов, НА Крекотень, СО Парашков Журнал прикладной спектроскопии 87 (1), 122-129, 2020 | 2 | 2020 |
| Аналитическое решение обратной спектрофотометрической задачи для прозрачного слоя на поглощающей подложке НИ Стаськов Проблемы физики, математики и техники, 31-37, 2015 | 2 | 2015 |
| Спектры оптических характеристик титана с бинарным поверхностным слоем НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, АН Петлицкий Оптика и спектроскопия 112 (6), 952-952, 2012 | 2 | 2012 |
| Структура и электронное строение поверхностных слоев пластин кремния после обработки в низкоэнергетической плазме водорода и аргона СЮ Турищев, ВА Терехов, ЕВ Паринова, АВ Мазаник, ОВ Королик, ... Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники, 15-20, 2011 | 2 | 2011 |
| Определение параметров полупроводниковых подложек с учетом естественных поверхностных слоев методом спектральной эллипсометрии ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов, АБ Сотский БГУ, 2010 | 2 | 2010 |
| Эллипсометрия кремниевой подложки с естественным поверхностным слоем НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛМ Сотская, ИВ Ивашкевич Магілёўскі дзяржаўны ўніверсітэт імя АА Куляшова, 2007 | 2 | 2007 |
| Спектроскопия слоев на плоскопараллельных подложках АБ Сотский, СС Михеев, НИ Стаськов, ЛИ Сотская Оптика и спектроскопия 128 (8), 1133-1143, 2020 | 1 | 2020 |
| Спектроэллипсометрия кварцевых пластин АВ Шульга, НИ Стаськов, НА Крекотень Белорусско-Российский университет, 2019 | 1 | 2019 |
| ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПЛЕНОК ОКСИДА ЦИНКА НА СТЕКЛЯННЫХ ПОДЛОЖКАХ НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ВВ Филиппов, БГ Шулицкий, ... Журнал прикладной спектроскопии 85 (4), 658-665, 2018 | 1 | 2018 |
| ИССЛЕДОВАНИЕ НАНОРАЗМЕРНЫХ СЛОЕВ НА СПЕКТОФОТОМЕТРЕ PHOTON RT АБ Сотский, КН Кривецкий, АА Федотко, ИС Дзен, СО Парашков, ... Спектрометрические методы анализа, 101-105, 2013 | 1 | 2013 |
