Стаськов Николай Иванович (N.I.Stas'kov, N.I.Staskov, Nikola Stas'kov)
Стаськов Николай Иванович (N.I.Stas'kov, N.I.Staskov, Nikola Stas'kov)
Могилевский государственный университет имени А.А.Кулешова (Mogilev State A. Kuleshov University)
Подтвержден адрес электронной почты в домене msu.by
НазваниеПроцитированоГод
Эллипсометрия переходных слоев полупроводник–диэлектрик
НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич, НА Крекотень
Проблемы физики, математики и техники, 18-24, 2013
52013
Учет влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрии
НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич, АБ Сотский, ЛИ Сотская
Проблемы физики, математики и техники, 26-30, 2012
42012
Моделирование переходных слоев в структуре полупроводников-диэлектрик-полупроводник
НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич
Оптика неоднородных структур-2011, 92-94, 2011
42011
Исследование молекулярной ориентации в вытянутых промышленных пленках ПЭТФ с помощью спектроскопии НПВО
ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов
Веснік Магілёўскага дзяржаўнага ўніверсітэта імя АА Куляшова, 151-158, 2004
42004
Спектры оптических характеристик титана с бинарным поверхностным слоем
НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, АН Петлицкий
Оптика и спектроскопия 112 (6), 952-952, 2012
22012
Моделирование переходного слоя слоем диполей при эллипсометрическом исследовании диэлектриков и полупроводников
НИ Стаськов, ВВ Филиппов, НА Крекотень
Оптика неоднородных структур-2011, 83-85, 2011
22011
Аналитическое решение обратной спектрофотометрической задачи для прозрачного слоя на поглощающей подложке
НИ Стаськов
Проблемы физики, математики и техники, 31-37, 2015
12015
ИССЛЕДОВАНИЕ НАНОРАЗМЕРНЫХ СЛОЕВ НА СПЕКТОФОТОМЕТРЕ PHOTON RT
АБ Сотский, КН Кривецкий, АА Федотко, ИС Дзен, СО Парашков, ...
Спектрометрические методы анализа, 101-105, 2013
12013
Определение параметров полупроводниковых подложек с учетом естественных поверхностных слоев методом спектральной эллипсометрии
ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов, АБ Сотский
БГУ, 2010
12010
Эллипсометрия кремниевой подложки с естественным поверхностным слоем
НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич
Веснік Магілёўскага дзяржаўнага ўніверсітэта імя АА Куляшова, 154-158, 2007
12007
Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом
НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич, АИ Кулак, ...
Физико-технический институт им. АФ Иоффе Российской академии наук, РФ, 2018
2018
ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПЛЕНОК ОКСИДА ЦИНКА НА СТЕКЛЯННЫХ ПОДЛОЖКАХ
НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ВВ Филиппов, БГ Шулицкий, ...
Журнал прикладной спектроскопии 85 (4), 658-665, 2018
2018
Эллипсометрический контроль параметров слоя на основе оксидов и нитрида кремния
НИ Стаськов, АН Петлицкий, НА Крекотень
Белорусско-Российский университет, 2018
2018
Оптический контроль параметров клинообразных пленок оксида цинка на стеклянных пластинах
СС Михеев, НИ Стаськов, ВВ Филиппов
Белорусско-Российский университет, 2018
2018
Спектрофотометрия слоя оксида цинка, допированного алюминием, на пластине К8
НИ Стаськов, ВВ Филиппов, БГ Шулицкий, ИА Кашко
Белорусско-Российский университет, 2017
2017
Спектрофотометрия слабопоглощающего слоя на стеклянной пластине конечной толщины
НИ Стаськов
Белорусско-Российский университет, 2017
2017
Спектральная эллипсометрия перовскитных пленок
ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов, ВВ Филиппов, БГ Шулицкий, ИА Кашко
Белорусско-Российский университет, 2017
2017
ТРЕХКОМПОНЕНТНАЯ МОДЕЛЬ ЭФФЕКТИВНОЙ СРЕДЫ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОСТАВА СЛОЕВ НА КРЕМНИЕВЫХ ПЛАСТИНАХ
НИ Стаськов, ЛИ Сотская
Журнал прикладной спектроскопии 84 (5), 703-709, 2017
2017
Решение обратной задачи спектральной эллипсометрии для поглощающей подложки с диэлектрическим слоем
НИ Стаськов, АВ Шульга
Институт физики им. БИ Степанова Национальной академии наук Беларуси, 2016
2016
Аналитическое решение обратной задачи спектрофотометрии для поглощающего слоя на поглощающей подложке с диэлектрическим слоем
АВ Шилов, СО Парашков, НИ Стаськов, НА Крекотень
2015
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20