| Эллипсометрия переходных слоев полупроводник–диэлектрик НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич, НА Крекотень Проблемы физики, математики и техники, 18-24, 2013 | 5 | 2013 |
| Учет влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрии НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич, АБ Сотский, ЛИ Сотская Проблемы физики, математики и техники, 26-30, 2012 | 4 | 2012 |
| Моделирование переходных слоев в структуре полупроводников-диэлектрик-полупроводник НИ Стаськов, ИВ Ивашкевич Оптика неоднородных структур-2011, 92-94, 2011 | 4 | 2011 |
| Исследование молекулярной ориентации в вытянутых промышленных пленках ПЭТФ с помощью спектроскопии НПВО ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов Веснік Магілёўскага дзяржаўнага ўніверсітэта імя АА Куляшова, 151-158, 2004 | 4 | 2004 |
| Спектры оптических характеристик титана с бинарным поверхностным слоем НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, АН Петлицкий Оптика и спектроскопия 112 (6), 952-952, 2012 | 2 | 2012 |
| Моделирование переходного слоя слоем диполей при эллипсометрическом исследовании диэлектриков и полупроводников НИ Стаськов, ВВ Филиппов, НА Крекотень Оптика неоднородных структур-2011, 83-85, 2011 | 2 | 2011 |
| Аналитическое решение обратной спектрофотометрической задачи для прозрачного слоя на поглощающей подложке НИ Стаськов Проблемы физики, математики и техники, 31-37, 2015 | 1 | 2015 |
| ИССЛЕДОВАНИЕ НАНОРАЗМЕРНЫХ СЛОЕВ НА СПЕКТОФОТОМЕТРЕ PHOTON RT АБ Сотский, КН Кривецкий, АА Федотко, ИС Дзен, СО Парашков, ... Спектрометрические методы анализа, 101-105, 2013 | 1 | 2013 |
| Определение параметров полупроводниковых подложек с учетом естественных поверхностных слоев методом спектральной эллипсометрии ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов, АБ Сотский БГУ, 2010 | 1 | 2010 |
| Эллипсометрия кремниевой подложки с естественным поверхностным слоем НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич Веснік Магілёўскага дзяржаўнага ўніверсітэта імя АА Куляшова, 154-158, 2007 | 1 | 2007 |
| Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ИВ Ивашкевич, АИ Кулак, ... Физико-технический институт им. АФ Иоффе Российской академии наук, РФ, 2018 | | 2018 |
| ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПЛЕНОК ОКСИДА ЦИНКА НА СТЕКЛЯННЫХ ПОДЛОЖКАХ НИ Стаськов, АБ Сотский, ЛИ Сотская, ВВ Филиппов, БГ Шулицкий, ... Журнал прикладной спектроскопии 85 (4), 658-665, 2018 | | 2018 |
| Эллипсометрический контроль параметров слоя на основе оксидов и нитрида кремния НИ Стаськов, АН Петлицкий, НА Крекотень Белорусско-Российский университет, 2018 | | 2018 |
| Оптический контроль параметров клинообразных пленок оксида цинка на стеклянных пластинах СС Михеев, НИ Стаськов, ВВ Филиппов Белорусско-Российский университет, 2018 | | 2018 |
| Спектрофотометрия слоя оксида цинка, допированного алюминием, на пластине К8 НИ Стаськов, ВВ Филиппов, БГ Шулицкий, ИА Кашко Белорусско-Российский университет, 2017 | | 2017 |
| Спектрофотометрия слабопоглощающего слоя на стеклянной пластине конечной толщины НИ Стаськов Белорусско-Российский университет, 2017 | | 2017 |
| Спектральная эллипсометрия перовскитных пленок ИВ Ивашкевич, НИ Стаськов, ВВ Филиппов, БГ Шулицкий, ИА Кашко Белорусско-Российский университет, 2017 | | 2017 |
| ТРЕХКОМПОНЕНТНАЯ МОДЕЛЬ ЭФФЕКТИВНОЙ СРЕДЫ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОСТАВА СЛОЕВ НА КРЕМНИЕВЫХ ПЛАСТИНАХ НИ Стаськов, ЛИ Сотская Журнал прикладной спектроскопии 84 (5), 703-709, 2017 | | 2017 |
| Решение обратной задачи спектральной эллипсометрии для поглощающей подложки с диэлектрическим слоем НИ Стаськов, АВ Шульга Институт физики им. БИ Степанова Национальной академии наук Беларуси, 2016 | | 2016 |
| Аналитическое решение обратной задачи спектрофотометрии для поглощающего слоя на поглощающей подложке с диэлектрическим слоем АВ Шилов, СО Парашков, НИ Стаськов, НА Крекотень | | 2015 |